双折射残余应力测量仪_折射仪

供应商：北京欧屹科技有限公司[查看公司详情]

所在地：中国北京北京市昌平区龙冠大厦612室

价格：面议

经营模式：贸易型

联系人：鲁涛

产品简介

WPA-200-L

WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以其领先世界的光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。可测数千nm高相位差分布的万能机器，最适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。

WPA-200-L

主要特点:

操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤCamera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
可测样品尺寸更大。

主要应用：

.光学零件（镜片、薄膜、导光板）

.透明成型品（车载透明零件、食用品容器）

.透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）

.透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）

.有机材料（球晶、FishEve）

技术参数：

项次

项目

具体参数

输出项目

相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】

测量波长

520nm、543nm、575nm

双折射测量范围

0-3500nm

测量最小分辨率

0.001nm

测量重复精度

<1nm（西格玛）

视野尺寸

33x40mm-240×320mm（标准）

选配镜头视野

3×4-12.9×17.2mm

选配功能

实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

测量案例：