用于操作CMOS图像传感器的方法
申请公布号:CN1212003C
申请号:CN01102883.1
申请日期:2001.02.21
申请公布日期:2005.07.20
发明人:S·劳克斯特尔曼;S·谭纳;J·格鲁普
分类号:H04N5/225;H01L27/146
主分类号:H04N5/225
代理人:陈霁;梁永
地址:瑞士比安
摘要:本发明涉及一种用于操作CMOS图像传感器的方法,所述图像传感器包括被设置在多个行和列中的像素阵列(50),所述每个像素(50)包括和其照度成比例地积聚电荷载体的光传感器元件(PD)和能够在确定的时刻和所述光传感器元件(PD)相连以便产生代表由所述光传感器(PD)积聚的所述电荷载体的采样信号的存储装置(C1,55),所述存储装置(C1,55)旨在保证为了读出所述采样信号而进行存储。
主权项:1.一种用于操作CMOS图像传感器的方法,所述图像传感器包括被设置在多个行和列中的像素阵列(50),所述每个像素(50)包括和其照度成比例地积聚电荷载体的光传感器元件(PD)、耦合装置(A1,M2)和能够在确定的时刻通过所述耦合装置(A1,M2)耦合到所述光传感器元件(PD)以便产生代表由所述光传感器(PD)积聚的所述电荷载体的采样信号的存储装置(C1,55),所述存储装置(C1,55)旨在保证为了读出所述采样信号而进行存储,其特征在于所述方法包括:第一阶段(A)或初始化阶段,在此阶段期间所述光传感器元件(PD)和所述存储装置(C1,55)以确定的初始化电压被初始化;第二阶段(B)或曝光阶段,在此阶段期间所述光传感器元件(PD)被从所述初始化电压释放,并产生和其照度成比例的电荷载体,所述光传感器元件(PD)和所述存储装置(C1,55)通过所述耦合装置(A1,M2)彼此解除连接;第三阶段(C)或采样阶段,在此阶段期间,通过所述耦合装置(A1,M2)将所述光传感器元件(PD)耦合到所述存储装置(C1,55)来产生所述采样信号并且将所述采样信号存储在所述存储装置(C1,55)中;第四阶段(D)或读出阶段,在此阶段期间,读出存储在所述存储装置(C1,55)中的所述采样信号,所述光传感器元件(PD)和所述存储装置(C1,55)通过所述耦合装置(A1,M2)彼此解除连接;并且,其中在第四阶段(D)期间,所述光传感器元件(PD)被保持在这样一个电压下,使得由所述光传感器元件(PD)产生的任何电荷载体被耗尽,因而不会干扰被存储在所述存储装置(C1)上的所述采样信号。
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