检测系统的校正与运作方法,申请号TW102149315-传众专利搜索

检测系统的校正与运作方法

申请公布号：TWI503556

申请号：TW102149315

申请日期：2013.12.31

申请公布日期：2015.10.11

申请人：

旺矽科技股份有限公司

发明人：顾伟正;吕绍玮;蔡守仁;王友泽

分类号：G01R31/02;G01R35/00

主分类号：G01R31/02

代理人：廖钲达台中市西区台湾大道2段218号34楼

地址：新竹县竹北市中和街155号1至3楼

主权项：一种检测系统的校正与运作方法，该检测系统具有一检测机、一传导线组、一校正模组以及一探针模组；该校正与运作方法包含有下列步骤：A.电性连接该检测机与该传导线组；B.电性连接该传导线组与该校正模组；C.该检测机输出电讯号至该校正模组，以进行短路量测、断路量测以及阻抗量测其中之一者，并依据量测所得之数值进行对应之补偿以校正该检测系统；D.电性分离该传导线组与该校正模组；E.电性连接该传导线组与该探针模组；F.将该探针模组与一待测物接抵，且该检测机输出电讯号至该探针模组，以对该待测物进行电性检测。