一种全自动IC卷带的检测方法及其检测设备,申请号CN201210256841.X-传众专利搜索

一种全自动IC卷带的检测方法及其检测设备

申请公布号：CN102773878B

申请号：CN201210256841.X

申请日期：2012.07.24

申请公布日期：2014.11.05

申请人：

格兰达技术(深圳)有限公司

发明人：林宜龙;徐宁;刘国才;付义超;林清岚

分类号：B26F1/02(2006.01)I;B26D7/06(2006.01)I;B26D7/26(2006.01)I;B26D7/27(2006.01)I

主分类号：B26F1/02(2006.01)I

代理机构：

北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015

代理人：齐永红

地址：518000 广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园

摘要：本发明公开了一种全自动IC卷带的检测方法及其检测设备，包括以下步骤：伺服电机正转控制IC卷带从上下料模组装置下料，经过导轨模组装置输送至辅助卷带模组装置上料，在此过程中，电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录，简称一检；然后伺服电机反转控制IC卷带从辅助卷带模组装置下料，经过导轨模组装置输送至上下料模组装置上料，在此过程中，电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录，简称二检；对比一检和二检的结果，如果检测结果均为不合格，则对不合格品进行标记；如果一检合格、二检不合格或者一检不合格、二检合格，则通知人工进行确认，如果人工判断为不合格品，则对不合格品进行标记。

主权项：一种全自动IC卷带的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：伺服电机正转控制IC卷带从上下料模组装置下料，经过导轨模组装置输送至辅助卷带模组装置上料，在此过程中，电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录，简称一检；然后伺服电机反转控制IC卷带从辅助卷带模组装置下料，经过导轨模组装置输送至上下料模组装置上料，在此过程中，电气控制系统控制检测相机对IC卷带进行检测并记录，简称二检；对比一检和二检的结果，如果检测结果均为不合格，则对不合格品进行标记；如果一检合格、二检不合格或者一检不合格、二简合格，则通知人工进行确认，如果人工判断为不合格品，则对不合格品进行标记。