一种光电跟踪性能检测方法,申请号CN201410258920.3-传众专利搜索

一种光电跟踪性能检测方法

申请公布号：CN104034511A

申请号：CN201410258920.3

申请日期：2014.06.12

申请公布日期：2014.09.10

申请人：

中国科学院上海技术物理研究所

发明人：贾建军;白帅;石小丽;王娟娟;杨明冬;秦文

分类号：G01M11/00(2006.01)I

主分类号：G01M11/00(2006.01)I

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：郭英

地址：200083 上海市虹口区玉田路500号

摘要：本发明公开了一种基于可便携检测装置的光电跟踪性能检测方法。它对待测设备的跟踪范围、跟踪速度和跟踪精度等指标进行测试。本发明为光电跟踪系统提供了大范围、机动性强的动态跟踪靶标，同时可模拟光轴的微振动干扰，且测试系统结构简单，易于搭建和携带，可在不同场合下灵活使用。

主权项：一种光电跟踪性能检测方法，它基于包括有二维靶标转台(1)，靶标转台驱动器(2)，靶标转台控制计算机(3)，俯仰轴工作平面(4)，激光器(5)，激光器电源(6)，音圈电机快速指向镜(7)，音圈电机驱动控制器(8)和漫反射屏(9)的便携的光电跟踪性能检测装置实现的，其特征在于检测方法如下：1)跟踪范围测试，具体步骤为：1.1令待测光电跟踪设备(10)捕获漫反射屏(9)上的激光光斑；1.2二维靶标转台(1)带动激光光斑在方位轴或者俯仰轴方向做低速单向运动，待测光电跟踪设备(10)跟踪激光光斑；1.3当待测光电跟踪设备(10)的运动机构达到边界而丢失激光光斑时的角度测量值即为该方向上的跟踪范围极限值；2)最大瞬时捕获角速度测试，具体步骤为：2.1令待测光电跟踪设备(10)处于扫描或凝视捕获状态；2.2二维靶标转台1带动激光光斑从一侧进入待测光电跟踪设备(10)的扫描或凝视范围，观察其是否能瞬间捕获并跟踪；2.3逐渐增大激光光斑运行的角速度，当待测光电跟踪设备(10)无法瞬间捕获光斑时的角速度测量值即为该方向上的瞬时捕获角速度极限值；3)最大跟踪角速度测试，具体步骤为：3.1令待测光电跟踪设备(10)捕获漫反射屏9上的激光光斑；3.2二维靶标转台(1)带动激光光斑在方位轴或者俯仰轴方向做单向运动，待测光电跟踪设备(10)跟踪激光光斑；3.3逐渐增大光斑运行的角速度，当待测光电跟踪设备(10)丢失光斑时的角速度测量值即为该方向上的跟踪角速度极限值；4)跟踪带宽测试，具体步骤为：4.1令待测光电跟踪设备(10)捕获漫反射屏9上的激光光斑；4.2二维靶标转台(1)带动激光光斑按照一定频率和振幅的正弦曲线运动，待测光电跟踪设备(10)跟踪激光光斑；4.3逐渐增大正弦曲线的频率，当待测光电跟踪设备(10)丢失光斑时的正弦曲线频率值即为其跟踪带宽指标；5)微振动干扰测试，具体步骤为：5.1令二维靶标转台(1)处于零位位置，并保持静止；5.2开启音圈电机快速指向镜(7)，令其产生特定频率和幅度的小角度偏转，使光轴出射方向发生抖动，并令待测光电跟踪设备(10)跟踪激光光斑；5.3记录待测光电跟踪设备(10)的跟踪探测器脱靶量，计算跟踪误差，改变音圈电机快速指向镜(7)的工作频率，通过扫频方式得到跟踪误差与干扰频率的关系；5.4当跟踪误差的幅度与扰动幅度相等时，此时的扰动频率为待测光电跟踪设备(10)的干扰抑制带宽；6)跟踪精度测试，具体步骤为：6.1令待测光电跟踪设备(10)捕获漫反射屏(9)上的激光光斑；6.2二维靶标转台(1)带动激光光斑按照特定轨迹运动，待测光电跟踪设备(10)跟踪激光光斑，并依据跟踪探测器的脱靶量指标来计算待测光电跟踪设备(10)的跟踪精度，测试特定的相对运动对跟踪精度的影响；6.3在上述基础上令音圈电机快速指向镜(7)产生符合特定振动功率谱的微振动干扰，依据跟踪探测器的脱靶量指标来计算待测光电跟踪设备(10)的跟踪精度，测试特定功率谱下的微振动对跟踪精度的影响。