数显卡尺细分误差检校装置,申请号CN201420147836.X-传众专利搜索

数显卡尺细分误差检校装置

申请公布号：CN203798271U

申请号：CN201420147836.X

申请日期：2014.03.28

申请公布日期：2014.08.27

申请人：

上海市浦东新区计量质量检测所

发明人：黄守义;陶三春;张超;张宇;曹盛华;张耀明

分类号：G01B5/00(2006.01)I

主分类号：G01B5/00(2006.01)I

地址：201201 上海市浦东新区丽雅路75号

摘要：数显卡尺细分误差检校装置。包括支撑脚、检具主体、测量槽、量块、支承座、压板、沉头螺钉在内，其特征在于：检具主体长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽，测量槽内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块的支承座，支承座的槽内分别搁置量块，量块嵌入后由矩形中空的压板覆盖在检具主体上平面，用沉头螺钉将压板固定在检具主体上。与现有技术相比，支撑脚使检具主体前高后低，量块间留有数显卡尺量爪测量空间，保证了检校时量块工作面的长边和卡尺测量面长边垂直，测量时读数视角开阔，无需用手等接触量块，避免了手温对测量的影响，节省了时间并有效保证了检校质量，从而提高了数显卡尺检校的工作效率。

主权项：数显卡尺细分误差检校装置，包括支撑脚、检具主体、测量槽、量块、支承座、压板、沉头螺钉在内；其特征在于：检具主体长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽，测量槽内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块的支承座，支承座的槽内分别搁置量块，量块嵌入后由矩形中空的压板覆盖在检具主体上平面，用沉头螺钉将压板固定在检具主体上。