影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法和装置,申请号CN200810216689.6-传众专利搜索

影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法和装置

申请公布号：CN101713643B

申请号：CN200810216689.6

申请日期：2008.10.07

申请公布日期：2014.05.28

申请人：

深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司

发明人：高云峰;肖俊君;宋福民

分类号：G01B21/00(2006.01)I

主分类号：G01B21/00(2006.01)I

代理机构：

深圳中一专利商标事务所 44237

代理人：张全文

地址：518057 广东省深圳市南山区高新科技园松坪山工厂区5号路8号

摘要：本发明涉及虚拟设计技术领域，公开了影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法和装置。所述方法包括：在机床的动力学模型中为关键零部件设置待分析形位公差；以机床的驱动力矩为输入信号，生成添加所述形位公差后的机床动力学模型，再由动力学模型生成对应的数学模型；调用相应的求解器对所述数学模型进行求解，获得所述形位公差所导致的机床运动轨迹的偏差。本发明实施例能够分析各零部件形位公差对机床动态性能的影响。

主权项：一种影响机床轨迹控制精度的形位公差分析方法，其特征在于，包括：将机床上的不同的零部件的所有形位公差组成形位公差组，在机床的动力学模型中为关键部件设置待分析形位公差，所述待分析形位公差从所述形位公差组中指定单个或多个；以机床的驱动力矩为输入信号，生成添加所述形位公差后的机床动力学模型，再由动力学模型生成对应的数学模型；调用相应的求解器对所述数学模型进行求解，获得所述形位公差所导致的机床运动轨迹的偏差。