METHOD FOR MEASURING A TEMPERATURE PROFILE IN AN ADSORBER
申请公布号:WO2014056604(A1)
申请号:WO2013EP03020
申请日期:2013.10.08
申请公布日期:2014.04.17
发明人:FERSTL, JOHANN;MOLL, ANTON;STEINBAUER, MANFRED;VON GEMMINGEN, ULRICH;FLÜGGEN, RAINER
分类号:B01D53/04;B01D53/047;G01K11/32
主分类号:B01D53/04
摘要:Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Messen eines Temperaturprofils in einem Adsorber (2), bei dem mittels zumindest eines Lichtwellenleiters (100), insbesondere in Form einer Glasfaser, der in zumindest einem Adsorberbett (20) des Adsorbers (2) angeordnet ist, ein momentanes, insbesondere dreidimensionales, Temperaturprofil des mindestens einen Adsorberbettes (20) gemessen wird, wobei Licht in den Lichtwellenleiter (100) eingekoppelt wird und im Lichtwellenleiter (100) gestreutes Licht zur Ermittlung des momentanen Temperaturprofils ausgewertet wird. Die in einer Regenerationsphase bzw. in einer Adsorptionsphase wiederholt gemessenen momentanen Temperaturprofile werden verwendet, um Zeitpunkte zum Einleiten oder Beenden einer Regenerationsphase bzw. Adsorptionsphase zu bestimmen. Des Weiteren betrifft die Erfindung eine Adsorbereinheit (1).
COOLING BODY OF TEMPERATURE SENSOR
APPARATUS FOR ROTATING WAFER COMPRISING PROTECTION FILM
METHOD FOR FORMING FIELD AREA OF SEMICONDUCTOR DEVICE
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WORD ACCEPTOR FOR DECREASING MEMORY
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