抗电磁干扰的无缝拼接触控膜的自动检测调整方法及应用
申请公布号:CN103399676A
申请号:CN201310288264.7
申请日期:2013.07.10
申请公布日期:2013.11.20
发明人:刘泽江;夏宇;张军
分类号:G06F3/044(2006.01)I
主分类号:G06F3/044(2006.01)I
代理人:陆明耀;陈忠辉
地址:215123 江苏省苏州市园区星湖街218号生物纳米园C22栋
摘要:本发明揭示了一种抗电磁干扰的无缝拼接触控膜的自动检测调整方法及应用,包括两张或两张以上的具有抗电磁干扰自动检测调整功能的触控膜,成像显示设备,以及与触控膜、成像显示设备电线连接的计算控制单元。本发明的有益效果主要体现为:提出一种相邻触控膜无缝拼接的抗干扰自动调整方法,成功解决了触控膜在无缝(即近距离)拼接时产生的电磁干扰问题,使得两张或者两张以上的纳米触控膜可以实现无缝(近距离)拼接,为触控膜开辟了更多的应用领域。
主权项:一种抗电磁干扰的无缝拼接触控膜的自动检测调整方法,所述用于拼接的触控膜包括两张或两张以上,其特征在于:包括如下步骤,S1、判断拼接的触控膜的总数量步骤,具体为:将所有的拼接安装完毕的触控膜的感应信号采集控制集成电路板的信号连接线通过计算控制单元接于一局域网内,根据计算控制单元给每个触控膜的分配地址得出所拼接的触控膜的数量;S2、判断干扰膜步骤,具体为: S21、检测各个触控膜分别的信号频率,S22、检测具有相同激励信号频率的触控膜是否相邻,若邻接的触控膜之间具有相同激励信号频率,则相邻接的触控膜互为干扰膜,若邻接的触控膜之间具有不同的激励信号频率,调整自动结束;S3、自动调整步骤, 所述计算控制单元调整所述干扰膜的公共电容单元的电容值,确保调整完的相邻接的触控膜的公共电容值不同,避免干扰膜的存在,则自动调整结束;反之,重新返回到步骤S2。
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