SEMICONDUCTOR DEVICE

申请公布号：JP2012253485(A)

申请号：JP20110123232

申请日期：2011.06.01

申请公布日期：2012.12.20

申请人：

ELPIDA MEMORY INC

发明人：TERUI AKIRA;YANAGISAWA KENJI

分类号：H03K19/0175;H01L21/82;H01L21/822;H01L27/04;H03K19/00

主分类号：H03K19/0175

摘要：<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device that performs the evaluation of a calibration operation with ease and high accuracy in a wafer test. <P>SOLUTION: A semiconductor device comprises a replica buffer (131) that drives a calibration terminal ZQ and a variable impedance circuit (170) in which impedance to be a target when output impedance of the replica buffer is caused to change is set and is connected to the calibration terminal ZQ. <P>COPYRIGHT: (C)2013,JPO&INPIT

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