薄膜电晶体显示器阵列之测试电路及方法,申请号TW092121226-传众专利搜索

薄膜电晶体显示器阵列之测试电路及方法

申请公布号：TW200506390

申请号：TW092121226

申请日期：2003.08.01

申请公布日期：2005.02.16

申请人：

浩威科技有限公司

发明人：郭光义;田孝通

分类号：G01R31/26

主分类号：G01R31/26

代理人：苏翔

地址：台中市西屯区中工二路一八六号二楼

摘要：本发明揭示一种薄膜电晶体显示器电路之测试电路及方法，用以测试薄膜电晶体阵列之良窳，测试电路包含：一阵列测试机台、一被测物台座、一感测放大器阵列。其特征为：该感测放大器阵列由复数个转移阻抗放大器(transimpedance amplifier unit)及杂散电容放电电路组成，每一感测放大器包括：一转移阻抗放大器，由一运算放大器，二个开关及一个操作电容器组成，此转移阻抗放大器用以形成积分电路，其输出经一输出开关传送给取样／保持电路，经类比／数位转换器转换为数位信号；一薄膜电晶体阵列之源极线杂散电容放电电路，此放电电路用以形成杂散电容之电荷之放电路径。