智能型测试机,申请号CN01110296.9-传众专利搜索

智能型测试机

申请公布号：CN1379456A

申请号：CN01110296.9

申请日期：2001.04.06

申请公布日期：2002.11.13

申请人：

华邦电子股份有限公司

发明人：江宏泽

分类号：H01L21/66

主分类号：H01L21/66

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：刘晓峰

地址：台湾新竹

摘要：一种智能型测试机,将测试机连接至探测记录器,用以记录每一个晶片样本的测试结果,本发明的智能型测试机由于可记录所有晶片样本的测试结果,在环境改变或者其它因素使得测试机的测试结果呈现不通过时,测试工程师可根据测试结果,对晶片样本进行再次的测试,用以降低由于测试机误判所造成的损失。

主权项：1.一种智能型测试机，其特征在于：所述智能型测试机包括：一带状传输包装测试机，用以测试复数个晶片样本；一硬件接口，该硬件接口耦接于所述带状传输包装测试机，通过所述带状传输包装测试机测试晶片样本，并获得相对应于所述各个晶片样本的复数个测试结果，通过所述硬件接口送出这些测试结果；以及一个探测记录器，该探测记录器耦接于所述硬件接口，用以接收并记录所述测试结果。