Coin testing method.,申请号EP19920119438-传众专利搜索

Coin testing method.

申请公布号：EP0546341(A1)

申请号：EP19920119438

申请日期：1992.11.13

申请公布日期：1993.06.16

申请人：

ASCOM AUTELCA AG

发明人：RUEETSCHI, ANDREAS

分类号：G07D5/00;G07D5/10

主分类号：G07D5/00

摘要：<p>Bei einem Verfahren zum Prüfen einer Münze (1) werden mit einem optischen Sensor (19) entlang einer auf einer Hauptfläche der Münze (1) liegenden konzentrischen Kreisbahn (2) sequentiell Messwerte aufgenommen und mit einem abgespeicherten Erkennungsmuster verglichen. Das wesentliche Merkmal liegt darin, dass ein relativer Rotationswinkel zwischen Münze und Sensor überwacht wird, so dass jedem Messwert eine exakt definierte relative Winkelposition zugeordnet werden kann. Bei einer Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens ist die Münze in einer Halterung eingespannt. Mit einem Präzisionsantrieb wird ein Sensor relativ zur Halterung entlang der Kreisbahn (2) bewegt. <IMAGE></p>