利用差异式光学感知器测量物体厚度之方法及其装置,申请号TW077105722-传众专利搜索

利用差异式光学感知器测量物体厚度之方法及其装置

申请公布号：TW118651

申请号：TW077105722

申请日期：1988.08.19

申请公布日期：1989.09.11

申请人：

中国钢铁股份有限公司

发明人：林长春;廖龙基

分类号：G01B11/02

主分类号：G01B11/02

代理人：周良谋新竹巿林森路二七八号十二楼之一;洪澄文台北巿信义路四段二七九号三楼

地址：高雄巿小港区中钢路一号

主权项：1﹒一种利用差异式光学感知器测量物体厚度之方法,其包括下列步骤:(A)准备两组差异式光学感知器及四个光源;(B)将该两组差异式光学感知器以面对面之方式间隔着既定间距配置;(C)将该四个光源以两个为一组分别配置于该两组差异式光学感知器之两侧,同时,令各光源所发出光之路径各与该两组差异式光学感知器之联心线成45角,且各路径相交于联心线中之一点;(D)将待测物置于该各路径之交点处;(E)点亮成对角线配置的二个光源,并分别读出两组差异式光学感知器之各组输出电流値I11.I12及I31.I32;(F)点亮另二个成对角线配置的光源,并分别读出两组差异式光学感知器之各组输出电流値I1.I2I41.I42:(G)将各组输出电流値代入下式求出各Xn其中,A,B,系常数値,而n=l,2,3或4;(H)求出d1,d2,其中,d1=D-X1-X3,d2=D-X2-X4;以及(I)最后,求出待测物之厚度d,其中2﹒一如申请专利范围第1项之方法,其中,该等光源为红外线光源。3﹒一如申请专利范围第1项之方法,其中,该各组差异式光学感知器包括一半导体感光元件以及一组用来聚光之透镜。4﹒一如申请专利范围第3项之方法;其中,该各级差异式光学感知器另包括一滤光镜,用以滤除外界之干扰光源。5﹒一种量测物体厚度之装置,其包括:两组差异式光学感知器,该两组感知器以面对面之方式间隔着既定间隔配置;四个光源,该四个光源以两个为一组分别配置于该两组差异式光学感知器之两侧,同时,令各光源所发出光之路径各与该两组差异式光学感知器之联心线成45角,且各路径相交于联心线中之一点;一组控制装置;用以点亮成对角线配置的二个光源,并分别读出两组差异式光学感知器之各组输出电流値I11.I12及I31.I32;按着,点亮另二个成对角线配置的光源,并分别读出两组差异式光学感知器之各组输出电流値I1.I2及I41;接着,将各组输出电流値代入下式求出各Xn値其中,A、B系常数値,而n=l,2,3或4;按着,求出d1,d2,其中,d1=D-X1-X3,d2=D-X2-X4;以及最后,求出待测物之厚度d,其中6﹒一如申请专利范围第5项之装置;其中,该等光源为红外线光源。7﹒一如申请专利范围第5项之装置,其中,该各组差异式光学感知器包括一半导体感光元件以及一组用来聚光之透镜。8﹒一如申请专利范围第7项之装置;其中,该各组差异式学感知器另包括一滤光镜,用以滤除外界之干扰光源。图示简单说明:第1图系说明差异式光学感知器之作动原理之示意图。第2图系利用红外线光源及差异式光学感知器量测待测物所在位置之配置图。第3图系利用本发明之量测方法的系统配置图。第4图系说明本发明之量测方法的说明图。第5图系说明本发明之量测原理的说明图。