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A1N MASKING FOR SELECTIVE ETCHING OF SAPPHIRE

申请公布号:CA1065746(A)

申请号:CA19760268799

申请日期:1976.12.29

申请公布日期:1979.11.06

申请人:
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION

发明人:RUTZ, RICHARD F.

分类号:H05K3/46;C01F7/02;C01F7/16;C04B41/53;C04B41/91;C09K13/00;C23F1/00;G01D15/18;(IPC1-7):29C17/08;23F1/02

主分类号:H05K3/46

摘要:<p>AlN MASKING FOR SELECTIVE ETCHING OF SAPPHIRE A method is disclosed for forming holes and depressions in aluminum oxide, including its sapphire form and spinels by etching using AlN as a maskant. This method is featured by the epitaxial deposition of an AlN film on a sapphire body, for instance. The AlN film is etched in a predetermined pattern and heat treated. The etchants used may be either H2 or molten Al which will selectively attack the sapphire substrate in the regions exposed by the AlN mask.</p>

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